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由上海全耀提供的非接觸式光學(xué)膜厚儀是利用光學(xué)干涉原理和測(cè)量薄膜的反射光譜原理得出薄膜的實(shí)際厚度。膜厚儀主要用于測(cè)量尖端設(shè)備的生產(chǎn)中不可或缺的極薄膜、多層膜乃至半導(dǎo)體晶圓的硅膠基板厚度，膜厚儀可滿(mǎn)足用戶(hù)各種各樣的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測(cè)量。比如：二氧化硅，氮化硅，多晶硅，非晶硅，硅，光刻膠，聚合物膜層，聚酰亞胺等。全耀公司提供產(chǎn)品還包括：膜厚測(cè)量?jī)x，薄膜測(cè)試儀，厚度測(cè)量?jī)x以及薄膜測(cè)厚儀等，如果您對(duì)我們公司提供的產(chǎn)品有需求，歡迎您隨時(shí)撥打我們公司的電話(huà)：400-992-5592。
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MProbe系列薄膜測(cè)厚儀當(dāng)一束光入射到薄膜表面時(shí)，薄膜上表面和下表面的反射光會(huì)發(fā)生干涉，干涉的發(fā)生與薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)等有關(guān)，反射光譜薄膜測(cè)厚儀就是基于此原理來(lái)測(cè)量薄膜厚度。 反射光譜干涉法是一種非接觸式、無(wú)損的、精確且快速...
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EC-770 兩用涂層測(cè)厚儀
本儀表內(nèi)置高精密雙探頭，利用電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)，全自動(dòng)探測(cè)基材屬性，計(jì)算涂鍍層厚度，并通過(guò)點(diǎn)陣液晶快速顯示結(jié)果。同時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)可分組保存，并實(shí)時(shí)顯示統(tǒng)計(jì)值。用戶(hù)可分別為每組設(shè)置上下限報(bào)警值、零校準(zhǔn)、多...
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MProbe Vis薄膜測(cè)厚儀
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被MProbe Vis測(cè)厚儀測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類(lèi)金...
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MProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀
該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類(lèi)金剛石炭)，聚...
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MProbe RT薄膜測(cè)厚儀
該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導(dǎo)體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導(dǎo)體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類(lèi)金剛石炭)，聚...
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