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大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。比如：氧化物，氮化物，光刻膠，高分子聚合物，半導體(硅，單晶硅，多晶硅)，半導體化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂層(碳化硅，類金剛石炭)，聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)

Map薄膜厚度測繪儀用于測量厚度分布，評價薄膜厚度的均一性，可與所有MProble系列的薄膜測厚儀聯(lián)用。

厚度測繪臺包含：

1. XY電動載物臺，行程：150mm/200mm/300mm

2. 19英寸鋁制底座

3. 探頭適配器

4. 載物臺控制器

5. 厚度拼圖軟件

電動載物臺參數(shù)：

薄膜厚度分布圖（厚度以顏色標示）：   

厚度測繪軟件：

我們樂意為您進行免費樣品測量，歡迎來電咨詢。

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上海全耀代理產(chǎn)品：膜厚測量儀，薄膜測試儀，膜厚儀，厚度測量儀以及MProbe MSP顯微薄膜測試儀等，歡迎廣大用戶前來訂購。